近日，国家市场监督管理总局（国家标准化管理委员会）批准发布国家标准GB/T45114-2024《纳米技术透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》，将于2025年7月1日正式实施。南京市计量院负责筹建的江苏省新型半导体材料产业计量测试中心参与了该标准的起草工作。

《纳米技术透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》国家标准规定了使用透射电子显微镜（TEM）获得纳米颗粒粒度及形状分布的方法，描述了透射电子显微技术名词定义及计量关键术语，阐述了使用放大倍率标准物质、多层膜厚标准物质校准TEM以及透射图像采集、粒径分布、数据拟合的详细方法和步骤，同时提供了离散球形纳米颗粒、粒度混合物、形状混合物、非聚晶体、纳米晶聚集体、低长宽比颗粒、具有特定晶体习性纳米颗粒等七大类型的影响因素和测量数据，为纳米新材料的微观表征手段及检测评价提供了标准化支撑。该项国家标准的制定，填补了行业和国内在透射电镜标准材料粒度及形状分布上的空白，对规范材料微观尺度表征、生产研发先进材料具有指导性意义。

南京市计量院通过参与起草该项国家标准，提升了在国家纳米与新材料标准化领域中的话语权和影响力，也在引领先进材料行业实现可持续、跨越式发展上发挥了积极作用。